紫外輻照計(jì)探測(cè)器經(jīng)過嚴(yán)格的光譜及角度特性校正,性能穩(wěn)定,適用性強(qiáng),適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。
操作說明:
1、紫外線源(太陽,紫外燈等)的輻射強(qiáng)度測(cè)量測(cè)量紫外線源的紫外強(qiáng)度時(shí),探測(cè)器方向正對(duì)紫外線源,按下“POWER”鍵,開啟儀器,選擇適合的測(cè)試量程即可。測(cè)試太陽光到達(dá)地面的紫外線輻射強(qiáng)度,測(cè)量值為712 uW/cm2。
2、太陽隔熱膜、隔熱玻璃等對(duì)紫外線的阻隔性能測(cè)試太陽膜或隔熱玻璃等的紫外線阻隔性能測(cè)試時(shí),應(yīng)分兩步測(cè)量:
第一步:測(cè)量紫外源的輻射強(qiáng)度:
紫外源可選太陽光或紫外燈等。先測(cè)量紫外源的紫外線的輻射能功率密度UV1 W 。
第二步:測(cè)量被太陽膜阻隔后的紫外源的輻射強(qiáng)度:
保持紫外源與儀器間距離不變,在儀器與紫外源之間插入待測(cè)太陽膜或隔熱玻璃,被測(cè)物需緊貼儀器的測(cè)量端面,以免受外界光的影響。記下有太陽膜時(shí)紫外線的輻射能功率密度UV2 W 。
則紫外線的阻隔率= UV2 UV1 100%-W /W
由第一步得UV1 W =372 μW/cm2
由第二步得UV2 W =12 μW/cm2
紫外線的阻隔率= UV2 UV1 100%-W /W =100%-12/372 = 96.77%